一机搞定半导体C-V特性测试

互推小编 2023-05-08

ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。

主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率，又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。

本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss，输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。

自动平衡电桥技术

ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理，把以往简易的测量运放改进成：Lpot检零电路，0度90度数字检相及调制解调电路，Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好地抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。

主要测量页面

测量参数		C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、\|Z\|、\|Y\|
测量电平		0.005-20Vrms(<=1MHz) 0.005-15Vrms(>1MHz)
基本准确度		0.05%, 具体见公司相关企业标准
测量速度		快速:100次/秒、中速20次/ 秒、慢速6次/秒
显示范围	\|Z\|,R,X	0.01 mΩ～99.9999MΩ
	\|Y\|，G， B	0.00001μS～99.9999S
	C	0.00001pF～9.99999F
	D	0.00001～9.99999
	L	0.00001μH～99999.9H
	Q	0.01～99999.9
	θ(RAD)	-3.14159～3.14159
	θ(DEG)	-179.999 °～179.999°
	Δ%	-999.999%～999.999%
内部直流偏置电压		可选配±100mA、-40V～+40V
量程方式		自动、保持
触发方式		内部、手动、自动、外部、总线
校准功能		开路/短路、扫频清零、点频清零
等效电路		串联、并联
比较器		十档分选，BIN0～BIN9、NG、AUX
		PASS、HI、LOW(PASS/FAILLED显示)
接口		RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（选件）
温度湿度		0℃～40℃，相对湿度≤75%
电源要求		100～120 Vac或198～242 Vac
		46～64 Hz，功率大于75 VA
体积(WxHxD)		400mmx132mmx410mm
重量（净重）		8.5Kg